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自动化集成电路整机测试系统、装置及其方法

基本信息

申请号 CN02146347.6 申请日 -
公开（公告）号 CN100463133C 公开（公告）日 2009-02-18
申请公布号 CN100463133C 申请公布日 2009-02-18
分类号 H01L21/66(2006.01);G01R31/303(2006.01) 分类 基本电气元件;
发明人 祁明仁;郭澎嘉 申请（专利权）人 威盛电子（深圳）有限公司
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人 威盛电子股份有限公司;威盛电子（深圳）有限公司
地址 台湾省台北县新店市中正路533号8楼
法律状态 -

摘要

摘要 一种自动化集成电路整机测试系统，包括测试用计算机、自动插拔机构、温度控制装置及控制装置。其中测试用计算机适于承载及测试受测集成电路，自动插拔机构可以将受测集成电路置入于测试用计算机上及将受测集成电路从测试用计算机上移去。温度控制装置用以控制受测集成电路的温度。控制装置电性连接测试用计算机及自动插拔机构，可以控制自动插拔机构的动作。而测试用计算机于承载受测集成电路后构成一整机计算机，通过温度控制装置，可以将受测集成电路控制在预定的温度条件下，通过控制装置对该受测集成电路进行整机测试。