用于测量陶瓷元件巴块叠层厚度的装置
基本信息
| 申请号 | CN202120509150.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN214426674U | 公开（公告）日 | 2021-10-19 |
| 申请公布号 | CN214426674U | 申请公布日 | 2021-10-19 |
| 分类号 | G01B21/08（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 徐文锋 | 申请（专利权）人 | 广东微容电子科技有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市国高专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 陈冠豪 |
| 地址 | 527200广东省云浮市罗定市双东街道创业二路1号微容科技园 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请涉及陶瓷元件厚度测量领域，公开了一种用于测量陶瓷元件巴块叠层厚度的装置，该装置包括：测量台、高度计、测量杆和固定杆，其特征在于，所述装置还包括可带动测量杆上下运动的杠杆组件，所述杠杆组件包括：套筒，套于所述固定杆下段；杠杆，所述杠杆的支点设于套筒处，通过螺丝与所述套筒外侧活动连接；所述杠杆的阻力臂末端设有开口，通过所述开口与所述测量杆下段活动卡接；挡片，固定设于所述测量杆下段紧邻所述开口的上方之处。通过上述方式，解决现有测量装置受人为因素影响，测值稳定性差，结果精确度差的问题。 |
