不良偏光片识别方法、电子设备和存储介质
基本信息
申请号 | CN202111186165.9 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN113628212B | 公开(公告)日 | 2022-03-11 |
申请公布号 | CN113628212B | 申请公布日 | 2022-03-11 |
分类号 | G06T7/00(2017.01)I;G06T7/11(2017.01)I;G06T5/00(2006.01)I;G06T5/10(2006.01)I;G06T5/20(2006.01)I;G06N3/04(2006.01)I;G06N3/08(2006.01)I | 分类 | 计算;推算;计数; |
发明人 | 姜涌;范伟华;邹志豪;李剑波 | 申请(专利权)人 | 高视科技(苏州)股份有限公司 |
代理机构 | 惠州市超越知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人 | 陈文福 |
地址 | 215011江苏省苏州市高新区嘉陵江路198号11幢1层101室、102室、9层901室、902室 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本申请是关于一种不良偏光片识别方法、电子设备和存储介质。该方法包括:获取待检测屏幕的透射图像和反射图像;所述透射图像为光线从所述待检测屏幕透射后的待测区域成像;所述反射图像为光线在所述待检测屏幕表面反射后的待测区域成像;对所述透射图像和所述反射图像进行二值化处理,分别得到第一缺陷区域和第二缺陷区域;根据所述第一缺陷区域和所述第二缺陷区域的中心点坐标,计算所述第一缺陷区域和所述第二缺陷区域的中心距离差;根据所述中心距离差判断所述第一缺陷区域和所述第二缺陷区域对应的缺陷类型。本申请能够在屏幕质检时,通过图像识别的方式完成偏光片气泡和保护膜气泡的自动化检测区分。 |
