一种集成电路测试装置
基本信息
| 申请号 | CN202121898454.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN216117894U | 公开（公告）日 | 2022-03-22 |
| 申请公布号 | CN216117894U | 申请公布日 | 2022-03-22 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 陈德拥 | 申请（专利权）人 | 深圳德芯微电技术有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市兰锋盛世知识产权代理有限公司 | 代理人 | 陆婉 |
| 地址 | 518000广东省深圳市宝安区石岩街道上屋社区园岭路志泫翰工业园厂房K栋五层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型提供一种集成电路测试装置，属于集成电路技术领域，该集成电路测试装置包括工作台，壳体，其固定于工作台的顶部中心处；集成电路，其设置于壳体的顶部；夹持机构，其设有两组，两组夹持机构分别从集成电路的两侧以将集成电路夹持住，其中：每组夹持机构均包括固定块、丝杆、螺母、夹持板、限位组件和两个连接杆，固定块固定于工作台的顶部边缘处，丝杆的一端与固定块转动连接，且丝杆的另一端活动贯穿壳体的一侧内壁并向内延伸，螺母的螺纹配合于丝杆的圆周表面，限位组件与螺母连接以实现其作直线运动；本装置使得集成电路在进行测试不易晃动，不仅使得测试准确度高，而且效率高。 |
