一种集成电路的测试板
基本信息
| 申请号 | CN202121913013.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN216411476U | 公开（公告）日 | 2022-04-29 |
| 申请公布号 | CN216411476U | 申请公布日 | 2022-04-29 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 陈德拥 | 申请（专利权）人 | 深圳德芯微电技术有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市兰锋盛世知识产权代理有限公司 | 代理人 | 陆婉 |
| 地址 | 518000广东省深圳市宝安区石岩街道上屋社区园岭路志泫翰工业园厂房K栋五层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型提供一种集成电路的测试板，属于测试板技术领域，该集成电路的测试板包括储存箱，储存箱的一端开始有多个抽屉槽，多个抽屉槽内均滑动连接有放置板，储存箱的一侧设有电机，集成电路测试板主体，集成电路测试板主体设于其中一个放置板的上端，在需要将集成电路测试板主体从储存箱内拿出时，可以通过启动电机，这时其便会将动力传递至推送机构，这时推送机构便会将多个放置板向外推送，这时人们便可以将放置板上端的集成电路测试板主体拿取，无需再由人手动摸索了，使得集成电路测试板主体在被拿取时，其上端的电路不会被破坏，进而提高了集成电路测试板主体的使用效率和使用寿命。 |
