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开关检测方法

基本信息

申请号	CN201811496371.8	申请日	-
公开（公告）号	CN109633426A	公开（公告）日	2021-06-08
申请公布号	CN109633426A	申请公布日	2021-06-08
分类号	G01R31/327	分类	测量；测试;
发明人	何志强;曲世超;井超	申请（专利权）人	浙江特康电子科技有限公司
代理机构	杭州华鼎知识产权代理事务所（普通合伙）	代理人	项军
地址	314009 浙江省嘉兴市南湖区余新镇经一路与纬三路交叉口东北侧1幢-3幢
法律状态	-

摘要

本发明提供了开关检测方法，包括令控制芯片MCU输出导通MOS管Q1的电压值，获取连接在控制芯片MCU上的开关检测电路中流经MOS管Q1的电流值；当接收到表明电流值小于预设阈值的第一控制指令时，令控制芯片MCU输出关闭MOS管Q1的电压值，在MOS管Q1断开后获取开关检测电路中AD采样端处的采样电压值；如果采样电压值大于标准电压值，则判定开关SW处于闭合状态；如果采样电压值为零，则判定SW已断开。依据外部开关SW在不同状态下检测MOS管Q1的导通、关断状态下的采样电压值，参考SW在不同状态下流经Q1的电流发生变化从而导致采样电压值变化的方式完成对开关SW状态的判断，相对于现有技术，无需采用昂贵的电器元件即可以完成开关状态检测，降低了厂家成本。