开关检测方法

基本信息

申请号 CN201811496371.8 申请日 -
公开(公告)号 CN109633426B 公开(公告)日 2021-06-08
申请公布号 CN109633426B 申请公布日 2021-06-08
分类号 G01R31/327 分类 测量;测试;
发明人 何志强;曲世超;井超 申请(专利权)人 浙江特康电子科技有限公司
代理机构 杭州华鼎知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人 项军
地址 314009 浙江省嘉兴市南湖区余新镇经一路与纬三路交叉口东北侧1幢-3幢
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提供了开关检测方法,包括令控制芯片MCU输出导通MOS管Q1的电压值,获取连接在控制芯片MCU上的开关检测电路中流经MOS管Q1的电流值;当接收到表明电流值小于预设阈值的第一控制指令时,令控制芯片MCU输出关闭MOS管Q1的电压值,在MOS管Q1断开后获取开关检测电路中AD采样端处的采样电压值;如果采样电压值大于标准电压值,则判定开关SW处于闭合状态;如果采样电压值为零,则判定SW已断开。依据外部开关SW在不同状态下检测MOS管Q1的导通、关断状态下的采样电压值,参考SW在不同状态下流经Q1的电流发生变化从而导致采样电压值变化的方式完成对开关SW状态的判断,相对于现有技术,无需采用昂贵的电器元件即可以完成开关状态检测,降低了厂家成本。