结构光三维测量方法及系统
基本信息
| 申请号 | CN201710581178.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN107421467B | 公开（公告）日 | 2019-09-20 |
| 申请公布号 | CN107421467B | 申请公布日 | 2019-09-20 |
| 分类号 | G01B11/25（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 胡学磊; 李鹏杰; 郑众喜 | 申请（专利权）人 | 苏州优纳科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京三聚阳光知识产权代理有限公司 | 代理人 | 吴黎 |
| 地址 | 215163 江苏省苏州市新区科技城科灵路78号2号软件园11号楼2层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及光学三维传感和测量技术领域，公开的一种结构光三维测量方法包括以下步骤：将正弦周期条纹的周期序号按照编码方式F编码为m位二进制数；控制投影单元投影m×n幅具有编码后的周期序号的正弦周期条纹结构光至被测物体，每组相移中的相同条纹周期对应同一个编码位值，编码位值为0或1，分别对应n步相移的条纹相位的单调递增或单调递减；计算每个投影成像点的m个截断相位值；获取每个投影成像点的m个编码位值，校正反折的截断相位值；计算校正后的m个截断相位值的平均值；根据编码方式F的反运算F‑1获得正弦周期条纹的周期序号；计算得到完整相位。本发明简化了结构光的投影流程，提高了测量精度，并且降低了计算时间。 |
