一种晶圆级封装红外探测器及其制作方法

基本信息

申请号 CN201811228153.6 申请日 -
公开(公告)号 CN109273461A 公开(公告)日 2019-01-25
申请公布号 CN109273461A 申请公布日 2019-01-25
分类号 H01L27/144;H01L31/02;H01L31/0203 分类 基本电气元件;
发明人 马清杰;许正一;陈敏;吴多武 申请(专利权)人 南京方旭智芯微电子科技有限公司
代理机构 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 代理人 南京方旭智芯微电子科技有限公司
地址 210000 江苏省南京市浦口区南京海峡两岸科技工业园台中路99-263号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明涉及一种晶圆级封装红外探测器及其制作方法。该方法包括:在盖子晶圆的PAD区域形成导电层,并在导电层的一端面焊接PAD焊点;在盖子晶圆的键合区域形成键合层;对除键合区域和PAD区域外且与键合区域位于同一表面的盖子晶圆进行减薄处理;在盖子晶圆的开窗区域涂覆红外增透抗反射膜,在盖子晶圆的气体吸附区域形成第一凹槽,并在第一凹槽的底壁和侧壁均涂覆气体吸附膜层;将基板晶圆与盖子晶圆进行键合封装,形成晶圆级封装红外探测器。采用一种新的封装工艺工序,通过将PAD从正面引出,避免了采用划片切割的方法将盖子晶圆两侧的PAD区域打开而导致PAD损坏的情况发生,提高了封装良品率。