一种可调节的测厚结构
基本信息
| 申请号 | CN201922337821.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN211717417U | 公开（公告）日 | 2020-10-20 |
| 申请公布号 | CN211717417U | 申请公布日 | 2020-10-20 |
| 分类号 | G01B21/08(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 朱伟刚;戴建锋 | 申请（专利权）人 | 无锡艾科隆环境建设有限公司 |
| 代理机构 | 北京科亿知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 无锡艾科隆环境建设有限公司 |
| 地址 | 214000江苏省无锡市锡山区东港镇工业集中区A区 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种可调节的测厚结构，涉及测厚设备领域，包括有横向导轨、测厚仪固定座、调节部、横向调节盘、竖向调节盘、竖直导轨，所述调节部在竖直方向上通过所述竖直导轨滑动，调节部设置在第一固定块与第二固定块之间，所述横向导轨两端固定在调节部上，所述测厚仪固定座滑动配合在横向导轨上，所述测厚仪固定座通过螺纹导杆连接所述横向调节盘，所述竖向调节盘通过螺纹导杆连接到调节部上，本实用新型通过测厚仪固定座横向调节、纵向调节，实现对不同高度厚度的零件进行测厚，应用范围广操作方便。 |
