一种磁瓦表面缺陷检查系统的磁瓦凸面的缺陷判定方法
基本信息
| 申请号 | CN202111482708.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114166742A | 公开（公告）日 | 2022-03-11 |
| 申请公布号 | CN114166742A | 申请公布日 | 2022-03-11 |
| 分类号 | G01N19/08（2006.01）I;G01N5/00（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 唐睿;何进;陈益民 | 申请（专利权）人 | 安徽万磁电子股份有限公司 |
| 代理机构 | 合肥市泽信专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 方荣肖 |
| 地址 | 231524安徽省合肥市庐江县石头镇工业园区 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种磁瓦表面缺陷检查系统的磁瓦凸面的缺陷判定方法，系统包括壳体、夹紧装置、传输装置一、凸面检测装置定位装置以及控制器。夹紧装置包括固定挡板、移动挡板、定位组件、测距传感器一以及驱动组件，传输装置一包括电磁铁一、伸缩件一以及传输组件一，凸面检测装置包括检测座一、若干个触压开关一以及若干个探针一。定位装置包括测距传感器二。本发明通过夹紧装置对磁瓦进行初步的夹紧，通过传输装置一将磁瓦从夹紧装置上取走并进一步传输至凸面检测装置上进行检测，利用探针一形成的检测曲面一感应磁瓦凸面，当磁瓦凸面上具有凹陷或者凸起时，探针抵压触压开关一的时间是不同的，从而判断出该区域存在缺陷。 |
