一种磁瓦表面缺陷检查系统及其检查方法
基本信息
| 申请号 | CN201910932189.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN110514587B | 公开（公告）日 | 2021-12-21 |
| 申请公布号 | CN110514587B | 申请公布日 | 2021-12-21 |
| 分类号 | G01N19/08（2006.01）I;G01N5/00（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 唐睿;何进;陈益民 | 申请（专利权）人 | 安徽万磁电子股份有限公司 |
| 代理机构 | 合肥市泽信专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 方荣肖 |
| 地址 | 231524安徽省合肥市庐江县石头镇工业园区 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种磁瓦表面缺陷检查系统及其检查方法，系统包括壳体、夹紧装置、传输装置一、凸面检测装置、传输装置二、凹面检测装置、定位装置以及控制器。夹紧装置包括固定挡板、移动挡板、定位组件、测距传感器一以及驱动组件，传输装置一包括电磁铁一、伸缩件一以及传输组件一，凸面检测装置包括检测座一、若干个触压开关一以及若干个探针一。传输装置二包括电磁铁二、伸缩件二以及传输组件二，凹面检测装置包括检测座二、若干个触压开关二以及若干个探针二，定位装置包括测距传感器二和测距传感器三。本发明实现了对磁瓦的凹凸面的缺陷检查，提高缺陷的检查效果，可以降低劳动强度，保护工人的眼睛，而且提高缺陷检查的效率和误检率。 |
