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一种微弱痕迹处理方法、装置、检测方法及装置

基本信息

申请号 CN202010761626.X 申请日 -
公开（公告）号 CN111880181B 公开（公告）日 2021-11-30
申请公布号 CN111880181B 申请公布日 2021-11-30
分类号 G01S13/90（2006.01）I;G01S7/40（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 胡利平;李胜;周峰;吴皓;王超 申请（专利权）人 北京环境特性研究所
代理机构 北京格允知识产权代理有限公司 代理人 周娇娇
地址 100854北京市海淀区永定路50号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种微弱痕迹处理方法、装置、检测方法及装置，所述处理方法包括：对制作的地物背景下的痕迹样本进行测试，获取痕迹样本在不同擦地角下的全方位扫频雷达散射截面RCS测试数据；对所述RCS测试数据进行二维高分辨逆合成孔径雷达ISAR成像，获取不同擦地角下的全方位ISAR图像数据；对所述痕迹样本在预定擦地角下的多个方位角的ISAR图像数据进行融合，得到微弱痕迹的多角度融合增强结果图像；对比不同擦地角下全方位ISAR图像数据的融合结果图像；确定所述地物背景下对微弱痕迹进行目标增强优选的擦地角角度数据。本发明能够实现微弱痕迹目标的发现、探测和识别。