一种测量镀膜玻璃薄膜光学参数的方法
基本信息
| 申请号 | CN200610053955.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN1963460A | 公开（公告）日 | 2007-05-16 |
| 申请公布号 | CN1963460A | 申请公布日 | 2007-05-16 |
| 分类号 | G01N21/00(2006.01);G01M11/02(2006.01) | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 韩高荣;刘涌;宋晨路;汪剑勋;刘军波;刘起英 | 申请（专利权）人 | 杭州中天玻璃有限公司 |
| 代理机构 | 杭州求是专利事务所有限公司 | 代理人 | 韩介梅 |
| 地址 | 310027浙江省杭州市西湖区浙大路38号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及一种测量镀膜玻璃薄膜光学参数的方法，包括如下步骤：建立薄膜厚度h、折射率n、消光系数k与薄膜透射率、反射率的函数关系，与实测镀膜玻璃的可见光透射、反射光谱联立构成曲线拟和问题，利用模拟退火法、牛顿迭代法相结合的两步法求解这个曲线拟和问题，从而获得薄膜光学参数的测量结果。本发明与已有的相应技术相比，更适于镀膜玻璃薄膜的测量，具有快速准确的测量效果，测量结果稳定，而且方法简便易行，成本低廉。 |
