模拟光子晶体光纤受力状态下的测试方法及测试设备
基本信息
| 申请号 | CN202010041470.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN111189616B | 公开（公告）日 | 2022-01-25 |
| 申请公布号 | CN111189616B | 申请公布日 | 2022-01-25 |
| 分类号 | G01M11/00（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 刘永;杜明 | 申请（专利权）人 | 苏州众为光电有限公司 |
| 代理机构 | 北京远大卓悦知识产权代理有限公司 | 代理人 | 张川 |
| 地址 | 215000江苏省苏州市高新区向街8号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供的模拟光子晶体光纤受力状态下的测试方法，包括步骤如下：测试前先对光子晶体光纤试样进行检测，记录作为测试前的损耗初始值α1；将试样的一端固定在旋转臂上，并将试样的部分缠绕在绕线轮上，并将试样的两端接通至检测装置上；固定座将试样中间端固定，旋转臂往复摆动，检测装置记录测试过程的传导过程中的损耗α2；固定座与试样脱离接触，直线驱动器驱使旋转臂移动；将固定座将试样重新固定，旋转臂往复摆动，检测装置记录测试过程的传导过程中的损耗α3；测试结束，将试样取下，测试并记录试样传导过程中的损耗α4，该传导测试方法操作方便，便于光子晶体光纤模拟现实的传导状态。 |
