一种纳米线阵列干涉传感器及其制备方法

基本信息

申请号 CN201410224152.X 申请日 -
公开(公告)号 CN103983611B 公开(公告)日 2017-04-26
申请公布号 CN103983611B 申请公布日 2017-04-26
分类号 G01N21/45(2006.01)I 分类 测量;测试;
发明人 李秋顺;董文飞;史建国;郑晖;李恒杰;马耀宏 申请(专利权)人 山东省科学院
代理机构 济南舜源专利事务所有限公司 代理人 于晓晓
地址 250014 山东省济南市历下区科院路19号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提供了一种纳米线阵列干涉传感器及其制备方法,是在表面长有纳米线阵列的导电玻璃与45°/45°/90°玻璃三棱镜或半圆棱镜耦合,构建基于Kretschmann结构的角度调制型或波长调制型纳米线阵列干涉传感器,本发明制备工艺简单,与表面等离子体共振分析仪相比,大大简化了传感芯片的制作工艺,降低了器件的制作成本,大大提高了对折射率检测的灵敏度。在食品安全、环境监测、医学检验等领域具有广阔的商业化应用前景,有望被广泛推广应用。