芯片自动测试设备的通道延时偏差的校准方法
基本信息
| 申请号 | CN201810763575.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN110716120B | 公开（公告）日 | 2021-07-23 |
| 申请公布号 | CN110716120B | 申请公布日 | 2021-07-23 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 王勇;楼冬明;范卫东;陈榕晖;梅萌 | 申请（专利权）人 | 澜起科技股份有限公司 |
| 代理机构 | 北京市君合律师事务所 | 代理人 | 毛健;顾云峰 |
| 地址 | 200233上海市徐汇区宜山路900号1幢A6 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请涉及一种用于芯片自动测试设备的通道延时偏差的校准方法。校准方法包括：提供多个校准参考器件，其中多个校准参考器件具有第二组延时路径，每个延时路径具有预定路径延时值并且连接一个校准参考器件的一对引脚，并且每个引脚至多连接到一个延时路径；分别将多个校准参考器件中的每个校准参考器件连接到芯片自动测试设备，其中第一组测试通道中每一个测试通道的测试探针分别连接到校准参考器件的一个引脚；利用芯片自动测试设备对多个校准参考器件进行测试，以获得从一个或多个发送通道至一个或多个接收通道的多个延时测量；以及基于多个延时测量计算第一组测试通道中的测试通道的延时偏差。 |
