电路主板可靠性测试方法、存储介质和系统
基本信息
| 申请号 | CN202111162557.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113866608A | 公开（公告）日 | 2021-12-31 |
| 申请公布号 | CN113866608A | 申请公布日 | 2021-12-31 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 郭孝云;严寒亮 | 申请（专利权）人 | 广东汉为信息技术有限公司 |
| 代理机构 | 广州永华专利代理有限公司 | 代理人 | 陈洁 |
| 地址 | 510535广东省广州市黄埔区联和街道科丰路266号1701房、1702房、1703房 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种电路主板可靠性测试方法、存储介质和系统。该测试方法包括以下步骤：步骤A.使待测试电路主板经开关电连接控制装置；步骤C.把温控箱的温度调节至测试温度；步骤E.控制装置启动计时，计至预设冷却时长后，控制装置令所述开关导通，以使待测试电路主板通电并通信连接控制装置，然后自动扫描电路主板，若在预设扫描时长内扫描到电路主板X，则记录电路主板X启动成功，否则记录电路主板X启动失败。该测试方法能自动对电路主板进行恶劣温度下的启动测试，无需人工计时后手动启动电路主板以及记录启动结果，比较方便。 |
