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芯片测试系统

基本信息

申请号 CN202120323989.5 申请日 -
公开（公告）号 CN214409206U 公开（公告）日 2021-10-15
申请公布号 CN214409206U 申请公布日 2021-10-15
分类号 G01R31/28（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 陈玉龙;靳家奇;王永成;韩飞 申请（专利权）人 合肥格易集成电路有限公司
代理机构 上海翼胜专利商标事务所（普通合伙） 代理人 翟羽
地址 230601安徽省合肥市经济技术开发区清华路368号
法律状态 -

摘要

摘要 本申请公开了一种芯片测试系统。本申请系统包括互连控制设备、高低温试验箱以及至少一测试板；所述互连控制设备包括第一端口与第二端口，所述互连控制设备通过所述第一端口接收所述至少一测试板发出的基于第一通信协议的第一温控指令、根据所述第一温控指令通过所述第二端口发送基于第二通信协议的第二温控指令至所述高低温试验箱。本申请通过互连控制设备实现高低温试验箱与测试板的信息交互，从而可以控制高低温试验箱根据测试板上的测试程序发出的温控指令做出相应的温控操作，实现全自动升降温控制，能够提供满足被测芯片要求的温度环境，为高稳定性和可靠性芯片测试提供测试保障。