一种芯片的功耗测试系统和设备
基本信息
| 申请号 | CN201910517493.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN110297171B | 公开（公告）日 | 2021-10-01 |
| 申请公布号 | CN110297171B | 申请公布日 | 2021-10-01 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 李军;张军;徐方海;王景华 | 申请（专利权）人 | 合肥格易集成电路有限公司 |
| 代理机构 | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 | 代理人 | 莎日娜 |
| 地址 | 215008 江苏省苏州市苏州工业园区东长路88号N1幢7层703室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申请提供了一种芯片的功耗测试系统和设备。其中，功耗测试系统包括：接口座、热流罩、温度传感器、中央处理装置、电压输入装置和采样装置；接口座上设置有用于连接受试芯片的接口，接口通信连接至中央处理装置；热流罩罩设接口；温度传感器设置于热流罩内，且耦接至中央处理装置；电压输入装置的输出端耦接至接口，电压输入装置的控制端耦接至中央处理装置；采样装置串联在电压输入装置与接口相耦接的通路上，且采样装置的采样数据输出端耦接至中央处理装置。自动完成目标受试芯片的功耗测试，并记录目标受试芯片在不同的工作环境温度下的工作电流，避免人为配置测试参数造成失误，或人为读数和/或记录错误导致的测试结果失准。 |
