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透明物品厚度测量装置

基本信息

申请号 CN201821430971.X 申请日 -
公开（公告）号 CN208751497U 公开（公告）日 2019-04-16
申请公布号 CN208751497U 申请公布日 2019-04-16
分类号 G01B11/06（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 向五峰 申请（专利权）人 深圳市贝诺光科科技有限公司
代理机构 北京中济纬天专利代理有限公司 代理人 深圳市贝诺光科科技有限公司
地址 518102 广东省深圳市宝安区西乡西城工业区茂成大厦6楼
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型涉及非接触式检测技术领域，特别涉及一种透明物品厚度测量装置，包括底座、光学模组以及显示单元，所述底座用于托撑被测物品，光学模组设置在被测物品的下方，光学模组射出的光线经过被测物品的两个面反射后的光线被光学模组接收，光学模组根据接收到的光线计算出被测物品厚度并输出至显示单元显示。通过设置光学模组，根据被测物品两个表面所反射光线的差别可以方便的计算出被测物品的厚度，这种检测无需接触被测物品，不会污染或破坏被测物品，相较于光谱离焦的方案，本装置成本大大降低，使用时，只需要将被测物品放置在底座上即可在显示单元上显示出其厚度，检测非常方便。