一种用于微波等离子体炬发射光谱的固体进样分析系统
基本信息
申请号 | CN201710535341.2 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN107271428A | 公开(公告)日 | 2017-10-20 |
申请公布号 | CN107271428A | 申请公布日 | 2017-10-20 |
分类号 | G01N21/71(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 张勇;王世功;赵珍阳;史磊;田中朝;许玉兴;赵玉新 | 申请(专利权)人 | 山东东仪光电仪器有限公司 |
代理机构 | 北京中索知识产权代理有限公司 | 代理人 | 山东东仪光电仪器有限公司 |
地址 | 264670 山东省烟台市高新技术产业园区经七路11号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明适用于固体样品元素含量分析技术领域,提供了一种用于微波等离子体炬发射光谱的固体进样分析系统,包括激光器,用于输出预定波长的激光;光学扩束装置,用于将激光扩散处理;光路调节装置,用于将扩散处理后的激光光束按预定角度反射和/或将可见光透射处理;光学聚焦装置,用于将激光光束聚焦处理后传送到样品室;样品室,用于放置样品,并接收聚焦后的激光对样品进行烧蚀处理;成像处理装置,用于将所述光路调节装置透射处理后的可见光成像处理。本发明具有无需样品前处理,固体样品直接分析,分析速度快,分析灵敏度高等特点,可用于冶金、地质、硅酸盐等工业领域的固体或粉末样品快速元素含量分析。 |
