一种缺陷检测模型训练方法、缺陷检测方法、装置及系统
基本信息
| 申请号 | CN202110707315.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113255590A | 公开（公告）日 | 2021-08-13 |
| 申请公布号 | CN113255590A | 申请公布日 | 2021-08-13 |
| 分类号 | G06K9/00（2006.01）I;G06K9/62（2006.01）I;G06T7/00（2017.01）I;G06N3/08（2006.01）I;G01N21/88（2006.01）I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 戴永东;王茂飞;蒋中军;翁蓓蓓;刘玺;鞠玲;宋旭琳 | 申请（专利权）人 | 众芯汉创（北京）科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京市隆安律师事务所 | 代理人 | 杨云 |
| 地址 | 100094北京市海淀区东北旺西路8号5号楼一层129室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种缺陷检测模型训练方法、缺陷检测方法、装置及系统，方法包括：建立神经网络模型；采集多种类型线路缺陷的样本图像并进行处理；将处理后的样本图像输入至所述神经网络模型进行训练，获得缺陷检测模型；通过测试图片对所述缺陷检测模型评估；对评估满足预设条件的各缺陷类型的缺陷检测模型进行容器化存储；该方法能够适用于不同背景场景下的缺陷识别。 |
