表面粗糙度检测装置
基本信息
| 申请号 | CN200810223654.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN101363725B | 公开（公告）日 | 2011-04-20 |
| 申请公布号 | CN101363725B | 申请公布日 | 2011-04-20 |
| 分类号 | G01B11/30(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 李粉兰;段海峰;郝建国;许祖茂;李俊国 | 申请（专利权）人 | 北京时代之峰佳亿科技有限责任公司 |
| 代理机构 | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人 | 北京时代之峰科技有限公司;北京时代之峰佳亿科技有限责任公司 |
| 地址 | 100085 北京市海淀区上地西路28号1幢二层 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种表面粗糙度的检测装置，包括光源单元和光电探测器，光源单元发出光照射被测表面，光电探测器探测由被测表面反射的光得到检测信号，被测表面与检测装置的光轴和光电探测器位于同一平面内，被测表面以与所述光轴成第一角度放置，光电探测器以与所述光轴成第二角度放置，以防光从光电探测器反射回被测表面。本发明的表面粗糙度检测装置，既避免了反射光对测量结果的影响，又减少了吸收装置而降低成本。 |
