镀层厚度测量装置
基本信息
| 申请号 | CN201020639594.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN201876248U | 公开（公告）日 | 2011-06-22 |
| 申请公布号 | CN201876248U | 申请公布日 | 2011-06-22 |
| 分类号 | G01B15/02(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 崔厚欣;吴速;杨长江;高会娟;刘大亮 | 申请（专利权）人 | 北京时代之峰佳亿科技有限责任公司 |
| 代理机构 | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人 | 北京时代之峰科技有限公司;北京时代之峰佳亿科技有限责任公司 |
| 地址 | 100085 北京市海淀区上地西路28号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型涉及一种镀层厚度测量装置，其包括：X射线管，与高压电源相连接，发射出X射线，所述X射线的发射方向向上；准直器，设置在所述X射线管与被测物质之间；射线安全联锁机构，设置在X射线管与准直器之间；射线检测器，接收X射线照射到被测物质后发出的荧光信号，并转化为电信号；前置放大器、主放大器、多道分析器与中央控制电路顺序连接；计算机，与所述中央控制电路相连接，接收所述中央控制电路采集的电信号并进行数据处理与计算，获得被测物质的测量结果。本实用新型采用下照式检测结构，测量时只需要将被测物质的被测面朝下放置在检测台上即可，从而使仪器结构简单，使用方便。 |
