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一种测试PIM用的治具

基本信息

申请号 CN201922433221.9 申请日 -
公开（公告）号 CN212483624U 公开（公告）日 2021-02-05
申请公布号 CN212483624U 申请公布日 2021-02-05
分类号 G01R1/04(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 郭珍云;周大伟 申请（专利权）人 深圳市博敏电子有限公司
代理机构 北京中济纬天专利代理有限公司 代理人 陆薇薇
地址 518103广东省深圳市宝安区福永街道白石厦龙王庙工业区21栋
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型公开了一种测试PIM用的治具，包括有活动架，所述活动架的上端固定安装有电动推杆，所述电动推杆的活塞杆贯穿活动架的上端，且所述电动推杆的活塞杆的一端固定连接有防护盘，所述活动架的内部开设有螺纹孔，所述螺纹孔的内部螺纹连接有螺杆，所述螺杆的一端与测试座的上端相连接，所述测试座的内部开设有测试腔，所述测试座的一侧设置有第一射频同轴连接器，且所述测试座的一侧还设置有第二射频同轴连接器。本实用新型通过使用测试座上可以升降移动的防护盘，可以有效的保证测试样品的安全性，同时使用螺杆升降活动架，可以使得治具可以适应不同高度大小的测试样品，提高了使用时的实用性。