测试温箱
基本信息
| 申请号 | CN201620634228.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN205786997U | 公开（公告）日 | 2016-12-07 |
| 申请公布号 | CN205786997U | 申请公布日 | 2016-12-07 |
| 分类号 | G01R31/26 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 赵龙 | 申请（专利权）人 | 上海战旗电子有限公司 |
| 代理机构 | 上海汉声知识产权代理有限公司 | 代理人 | 胡晶 |
| 地址 | 200085 上海市虹口区武昌路559号A楼426室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型提出一种测试温箱，包括箱体，所述箱体内开设有至少一个空腔，空腔壁隔开室温环境和所述箱体内的测试环境；所述空腔的至少一空腔壁可打开和关闭，并且该空腔的腔壁能够隔热，腔体内外之间可以实现直接的电气连接。本实用新型涉及半导体功能及可靠性测试领域，改进现有温箱结构，能够同时在一个温箱内测试多个被测对象，温箱内密闭的测试环境不受影响。温箱内外的电气连接通道不再受到侧面连接方式中的尺寸限制，可以直接实现超大通道容量、最短路径的电气连接，从而提高试验密度、实现符合现有高速电子产品的高速要求。 |
