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一种集成IC外观缺陷检测装置

基本信息

申请号 CN202120772050.7 申请日 -
公开（公告）号 CN214555452U 公开（公告）日 2021-11-02
申请公布号 CN214555452U 申请公布日 2021-11-02
分类号 B07C5/34（2006.01）I;B07C5/36（2006.01）I 分类 将固体从固体中分离；分选;
发明人 胡冬 申请（专利权）人 四川明泰微电子有限公司
代理机构 成都诚中致达专利代理有限公司 代理人 曹宇杰
地址 641100四川省内江市东兴区胜利镇新立五队
法律状态 -

摘要

摘要 一种集成IC外观缺陷检测装置，包括设于工作台的检测机构，检测机构包括：定位机构，设于工作台；检测组件，有多个，线性阵列于检测架上，检测架设于工作台上，位于轨道槽一侧，检测组件包括通过转轴转动设于检测架的转杆以及与转杆上端连接的第一弹簧，第一弹簧另一端连接在检测架上，转杆下端转动连接有缺损检测轮，转杆上部设有透光孔；传感器，有一对，匹配使用，设于检测架上，位于检测架的两端，检测组件位于传感器之间，其中一个传感器用于发射信号，另一个传感器用于接收信号。采用机械式检测方式，通过缺损检测轮是否被挤偏，以使得传感器信号正常传输或被遮挡，从而判定出缺陷产品，结构简单，制造成本低。