测试系统
基本信息
| 申请号 | CN201710536672.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN107340467B | 公开（公告）日 | 2020-02-07 |
| 申请公布号 | CN107340467B | 申请公布日 | 2020-02-07 |
| 分类号 | G01R31/3185;G01R31/319 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 许江波;王鹏 | 申请（专利权）人 | 北京兆芯电子科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 北京兆芯电子科技有限公司 |
| 地址 | 100084 北京市海淀区中关村东路1号院7号楼威盛中国芯大厦 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供了一种测试系统。所述测试系统包括电路板以及电子装置。所述电路板包括待测装置、联合测试(JTAG)接口，以及扫描链电路。扫描链电路包含多个扫描链，且耦接至待测装置以及联合测试接口，其中每一扫描链包括多个扫描D型触发器。电子装置耦接联合测试行动小接口，以对待测装置进行测试。 |
