一种低电容高压放电管及其制备方法
基本信息
申请号 | CN202011370830.5 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN113161427A | 公开(公告)日 | 2021-07-23 |
申请公布号 | CN113161427A | 申请公布日 | 2021-07-23 |
分类号 | H01L29/87;H01L29/06;H01L21/329 | 分类 | 基本电气元件; |
发明人 | 王凯健;柯亚威;张鹏;周健 | 申请(专利权)人 | 江苏吉莱微电子股份有限公司 |
代理机构 | 南京正联知识产权代理有限公司 | 代理人 | 卢海洋 |
地址 | 226200 江苏省南通市启东市汇龙镇牡丹江西路1800号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明公开一种低电容高压放电管,N型硅片两面设有N+隔离区,N型硅片两面设有P‑BASE区,N型硅片和P‑BASE区上有P++区,P‑BASE区上方P++区和N+隔离区之间有P‑BASE区中N+区,N型硅片两面两边上设有玻璃钝化层,并在玻璃钝化层上湿法腐蚀出沟槽,N型硅片上的P‑BASE区上沉淀有金属层,金属层两侧的P‑BASE区设有氧化层和LTO层。步骤:1)选择N型硅片;2)氧化;3)N+隔离区;4)形成P++肼区;5)形成P‑BASE区;6)进行P‑BASE区中N+区光刻;7)台面光刻,腐蚀出沟槽;8)硼磷硅玻璃钝化、接触孔刻蚀;9)LTO层,沉积2000‑8000Å的LTO层;10)形成电极,形成金属层;11)合金。通过横向侧腐,减小了N+隔离区处的PN结横截面积,从而减小了电容值,有效降低了器件的残压,降低电容值。 |
