一种光学次模块检测机及检测方法
基本信息
| 申请号 | CN201310289667.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN104280209A | 公开（公告）日 | 2015-01-14 |
| 申请公布号 | CN104280209A | 申请公布日 | 2015-01-14 |
| 分类号 | G01M11/00(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 杨戬;李亚林;鄢炜臻;张伟;林卫国 | 申请（专利权）人 | 武汉亿科思德科技有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区民族大道888号锦绣龙城61栋1单元6层02号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供了一种光学次模块检测机及检测方法，该检测机能够实现对光学次模块（包括但不限于光发射次模块和光接收次模块）的全自动化上料和检测，并对优劣产品进行分别下料。包括光纤端面检测清洗及光纤插入耦合机构、自动送料机构、上料机构组件、下料机构组件、高精度工位转移机构（转盘机构、直线往复输送机构）、工作台、操纵面板、闭环自动检测控制系统、人机对话界面、防护罩及故障报警系统。该发明弥补了全自动检测光学次模块领域的空白，解决了依靠手工检测或者半自动检测使待检测件检测精度不高，检测效率低，检测成本高的问题。 |
