A型架背板平面位置公差检测装置及方法
基本信息
| 申请号 | CN202111274152.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114199095A | 公开（公告）日 | 2022-03-18 |
| 申请公布号 | CN114199095A | 申请公布日 | 2022-03-18 |
| 分类号 | G01B5/00（2006.01）I;G01B5/14（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 干丛龙;李青;李赫然;石志强;李震;郭标富;陈德青;廉涛 | 申请（专利权）人 | 东旭科技集团有限公司 |
| 代理机构 | 北京润平知识产权代理有限公司 | 代理人 | 周春雨 |
| 地址 | 241000安徽省芜湖市经济技术开发区万春街道纬二次路36号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及光电显示玻璃基板包装用A型架，具体地，涉及一种A型架背板平面位置公差检测装置，包括L型管和深度尺，所述L型管包括竖直方管、水平方管和凸出部，所述竖直方管与所述水平方管相互垂直且呈“L”形设置，所述水平方管和所述凸出部位于所述竖直方管靠近直角的一端的两侧，所述凸出部设有能够抵接所测量背板的顶部，所述竖直方管中间设有能够供所述深度尺穿过的通槽，以能够测量所述背板上测量点至所述竖直方管内直角面的垂直距离。本发明还公开一种A型架背板平面位置公差检测方法。本发明能够准确的测量A型架背板平面公差，且操作简单、便捷。 |
