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一种集成电路板用可调节高度的测试装置

基本信息

申请号 CN201710691485.7 申请日 -
公开（公告）号 CN107688105B 公开（公告）日 2020-05-19
申请公布号 CN107688105B 申请公布日 2020-05-19
分类号 G01R1/04;G01R31/28 分类 测量；测试;
发明人 杜俊慧;黄有为;黄东烨 申请（专利权）人 通元科技（惠州）有限公司
代理机构 北京华仁联合知识产权代理有限公司 代理人 通元科技（惠州）有限公司;广东通元精密电路有限公司
地址 516008 广东省惠州市惠城区水口镇东江工业区
法律状态 -

摘要

摘要 本发明涉及一种测试装置，尤其涉及一种集成电路板用可调节高度的测试装置。本发明要解决的技术问题是提供一种方便调节高度且方便工作人员检测的集成电路板用可调节高度的测试装置。为了解决上述技术问题，本发明提供了这样一种集成电路板用可调节高度的测试装置，包括有支架等；支架的上部连接有导轨，导轨上连接有导套，导轨与导套配合，导套的右端连接有放置机构，支架的下部左侧设有转动机构。本发明通过设置有转动机构，这样就可以调节放置板的高度，通过设置有放置箱等，这样就可以把未测试的和已经测试的集成电路板分开，通过设置有第二滑轨等，这样就可以调整放置集成电路板的数量。