STED超分辨显微技术中损耗光斑的高质量重建方法
基本信息
| 申请号 | CN201610813505.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN106291966B | 公开（公告）日 | 2018-07-17 |
| 申请公布号 | CN106291966B | 申请公布日 | 2018-07-17 |
| 分类号 | G02B27/58 | 分类 | 光学; |
| 发明人 | 龚薇;斯科;吴晨雪 | 申请（专利权）人 | 浙江大学控股集团有限公司 |
| 代理机构 | 杭州求是专利事务所有限公司 | 代理人 | 林超 |
| 地址 | 310000 浙江省杭州市西湖区智汇众创中心1号楼801-804室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种STED超分辨显微技术中损耗光斑的高质量重建方法。不加载样品光束经过均一相位空间光调制后被物镜聚焦，在焦平面得理想损耗光斑；加载样品光束经过均一相位空间光调制后被物镜聚焦，在位于样品内部的焦平面得畸变损耗光斑；将空间光调制器的像素点分区，各分区加载不同的相位值，得到一系列需校正损耗光斑，接着与理想损耗光斑进行互相关计算和处理，得到各分区的相位加载最佳值；各分区经过多次迭代处理后完成样品内部损耗光斑的高质量重建。本发明能重建有损耗空心光斑，能在大深度下得到完整而良好的损耗光斑，扩展了受激辐射淬灭显微技术的应用范围，提高了系统成像深度，提升了系统分辨率与信噪比并优化成像质量。 |
