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片上系统芯片结构及保存调试信息的方法

基本信息

申请号 CN201210032741.9 申请日 -
公开（公告）号 CN103246584B 公开（公告）日 2017-02-22
申请公布号 CN103246584B 申请公布日 2017-02-22
分类号 G06F11/22(2006.01)I 分类 计算；推算；计数;
发明人 曾旭 申请（专利权）人 苏州澜起微电子科技有限公司
代理机构 上海光华专利事务所 代理人 李仪萍
地址 215123 江苏省苏州市苏州工业园区星湖街328号创意产业园6-1002
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提供一种片上系统芯片结构及保存调试信息的方法。根据本发明的方法，首先，在所述片上系统芯片结构包含的存储单元中指定部分子单元用于存储调试信息；随后，在所述片上系统芯片结构中的处理单元执行调试作业的过程中，所述片上系统芯片结构中的记录单元记录自身所属片上系统芯片结构的调试信息；最后，所述片上系统芯片结构中的读写单元在所述处理单元不对所述存储单元进行读或写操作时，将所述记录单元所记录的调试信息写入所述部分子单元。本发明的优点包括：芯片中没有单独的存储器来存储调试信息，也没有设置与外部存储器连接的引脚，由此可以有效节约芯片面积，降低成本。