测试电路、测试方法和包括测试电路的计算系统
基本信息
| 申请号 | CN202110048109.2 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN114764118A | 公开（公告）日 | 2022-07-19 |
| 申请公布号 | CN114764118A | 申请公布日 | 2022-07-19 |
| 分类号 | G01R31/317（2006.01）I;G01R31/3183（2006.01）I;G01R31/3185（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 陈默;范志军;刘建波;许超 | 申请（专利权）人 | 深圳比特微电子科技有限公司 |
| 代理机构 | 中国贸促会专利商标事务所有限公司 | 代理人 | - |
| 地址 | 518000广东省深圳市高新技术产业园高新南六道航盛科技大厦801室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本公开涉及测试电路、测试方法和包括测试电路的计算系统。一种测试电路包括：测试序列提供模块，用于提供测试序列到待测试的时序器件；时钟驱动模块，用于提供时钟信号到所述待测试的时序器件，其包括第一时钟驱动电路，所述第一时钟驱动电路包括：多个第一时钟路径，分别提供对应的时钟信号；以及逻辑单元，基于所述多个第一时钟路径提供的时钟信号中的至少一部分，产生脉宽调节的第一时钟信号以用于所述待测试的时序器件；以及验证模块，用于对所述待测试的时序器件的输出进行验证。 |
