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建筑表面平整度检测方法

基本信息

申请号 CN201010580246.2 申请日 -
公开（公告）号 CN102538739A 公开（公告）日 2012-07-04
申请公布号 CN102538739A 申请公布日 2012-07-04
分类号 G01B21/30(2006.01)I 分类 测量；测试;
发明人 何涛;任海军;陈端圣;朱继胜;李倬;杨满宏;石飞 申请（专利权）人 万科企业股份有限公司
代理机构 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 代理人 万科企业股份有限公司
地址 518049 广东省深圳市深圳市盐田区大梅沙万科东海岸裙楼C02
法律状态 -

摘要

摘要 本发明涉及一种建筑表面平整度检测方法，包括以下步骤：（a）选取多个待测量平面；（b）将待测量平面的两个对角作为两个第一测量点进行测量，在所述第一测量点将靠尺与待测量平面边缘呈45度角放置并将靠尺与待测量平面之间存在大于指定阈值的点时将该第一测量点记为不合格点；（c）根据不合格点的比率确认是否建筑物表面平整度是否合格。本发明通过建筑物表面建立多个测量点并根据测量点的测量数据获得建筑物的表面平整度的评测数据，从而消除了建筑物评测中的人为操作引起的误差，改善了建筑物的质量控制。