一种芯片测试装置
基本信息
| 申请号 | CN202023322417.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN214441032U | 公开（公告）日 | 2021-10-22 |
| 申请公布号 | CN214441032U | 申请公布日 | 2021-10-22 |
| 分类号 | B07C5/34 | 分类 | 将固体从固体中分离；分选; |
| 发明人 | 门洪达;陶建军 | 申请（专利权）人 | 东莞观在机器人有限公司 |
| 代理机构 | 东莞市奥丰知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 周文 |
| 地址 | 523000 广东省东莞市大岭山镇月山村工业区B栋 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型提供了一种芯片测试装置，包括底座以及均安装在底座上的测试模组，测试模组包括测试通道、进料阻挡机构、支座、金手指夹测机构、测试阻挡机构、下对射感应机构和出料阻挡机构，进料阻挡机构安装在测试通道进口端的旁侧，金手指夹测机构和测试阻挡机构分别安装在支座的上侧和下侧且均位于测试通道的前方，出料阻挡机构均安装在测试通道出口端的旁侧。本实用新型能对芯片进行暂存，测试效率较高。 |
