一种射频及微波芯片的测试夹具
基本信息
| 申请号 | CN201720126521.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN206411147U | 公开（公告）日 | 2017-08-15 |
| 申请公布号 | CN206411147U | 申请公布日 | 2017-08-15 |
| 分类号 | G01R1/04(2006.01)I;G01R31/28(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 李冉;王伟旭;黄旭;杨川 | 申请（专利权）人 | 成都天衡电科科技有限公司 |
| 代理机构 | 成都华风专利事务所（普通合伙） | 代理人 | 成都天衡电科科技有限公司;成都天衡智造科技有限公司 |
| 地址 | 610213 四川省成都市双流县西南航空港经济开发区物联网产业园成都电子科技大学成都研究院内 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型涉及射频微波技术领域，具体涉及一种射频及微波芯片的测试夹具，包括底座，底座上至少设置有一个测试通道；测试通道包括芯片放置槽和位于芯片放置槽两侧的第一微带电路和第二微带电路，当待测芯片放置在芯片放置槽中时，第一微带电路的一端与待测芯片的测试输入端连接，另一端作为夹具的输入端；第二微带电路的一端与待测芯片的测试输出端连接，另一端作为夹具的输出端。本实用新型通过定位块和下压装置可以快速压接芯片，无需焊接即可保证待测芯片引脚电接触良好，进一步提高测试的效率和准确度。 |
