用于测量微纳颗粒的装置
基本信息
| 申请号 | CN201922061900.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN211122430U | 公开（公告）日 | 2020-07-28 |
| 申请公布号 | CN211122430U | 申请公布日 | 2020-07-28 |
| 分类号 | G01N15/00(2006.01)I;G01N15/02(2006.01)I | 分类 | - |
| 发明人 | 柳可;熊贵;王哲 | 申请（专利权）人 | 瑞芯智造（深圳）科技有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市隆天联鼎知识产权代理有限公司 | 代理人 | 刘抗美 |
| 地址 | 518000广东省深圳市龙华区观澜街道新澜社区观光路1301号银星科技大厦C601 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型揭示了一种用于测量微纳颗粒的装置，其中，该装置包括：包括腔体和至少两张微孔膜，所述微孔膜串设在所述腔体内，将所述腔体分隔为多个腔室，并且所述微孔膜上具有微孔，相邻两个腔室通过所述微孔相连通，每个所述腔室具有电极。本实用新型的技术方案能够实现对溶液状态下微纳颗粒的三维形态属性的测量。 |
