一种芯片测试自动化产线的芯片等级分选装置及方法
基本信息
| 申请号 | CN202110299075.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113083707A | 公开（公告）日 | 2021-07-09 |
| 申请公布号 | CN113083707A | 申请公布日 | 2021-07-09 |
| 分类号 | B07C5/02（2006.01）I;B07C5/36（2006.01）I;B07C5/38（2006.01）I | 分类 | 将固体从固体中分离；分选; |
| 发明人 | 符式鹏;徐海东;刘怡君;张文超 | 申请（专利权）人 | 珠海达明科技有限公司 |
| 代理机构 | 广州市红荔专利代理有限公司 | 代理人 | 王贤义;何承鑫 |
| 地址 | 519000广东省珠海市高新区唐家湾镇科技八路5号4栋 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种能有效提高生产效率、降低成本的芯片测试自动化产线的芯片等级分选装置及方法。本发明装置包括可更换的等级分选盘（1）、分选盘输送轨道（2）、若干个等级下料盘（3）、第一变距吸嘴模组（4）和第二变距吸嘴模组（5），所述等级下料盘（3）包括与所述等级分选盘（1）设置的等级相一致的相应数量的下料盘；本发明方法中，机械手带动所述第一变距吸嘴模组（4）将测试好的芯片按等级摆放在所述等级分选盘（1）上的所述芯片放置槽（6）内，再通过所述第二变距吸嘴模组（5）将分好等级的芯片码放到对应等级的所述等级下料盘（3）内。本发明可应用于设备控制领域。 |
