一种芯片测试装置
基本信息
| 申请号 | CN202022256838.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN213398652U | 公开（公告）日 | 2021-06-08 |
| 申请公布号 | CN213398652U | 申请公布日 | 2021-06-08 |
| 分类号 | G01R1/04（2006.01）I;G01R31/28（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 何士龙 | 申请（专利权）人 | 上海捷策创电子科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京品源专利代理有限公司 | 代理人 | 胡彬 |
| 地址 | 201203上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区龙东大道3000号5号楼302室-5325 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种芯片测试装置，涉及芯片测试技术领域。该芯片测试装置包括测试座体和多个导电接触片，测试座体上设置有第一容纳腔；多个导电接触片均设置于第一容纳腔内；导电接触片上设置有至少两个接触部，接触部包括第一接触面和第二接触面，第一接触面与待测芯片接触，第二接触面与测试线路板接触，以将待测芯片与测试线路板电连接。本实用新型提供的芯片测试装置，不仅可以测试大电流芯片，而且使用寿命长，节约成本。 |
