一种芯片测试电路、装置及系统
基本信息
| 申请号 | CN202011613846.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112748326A | 公开（公告）日 | 2021-05-04 |
| 申请公布号 | CN112748326A | 申请公布日 | 2021-05-04 |
| 分类号 | G01R31/28 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 顾培东;王波 | 申请（专利权）人 | 上海捷策创电子科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京品源专利代理有限公司 | 代理人 | 孟金喆 |
| 地址 | 201203 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区龙东大道3000号5号楼302室-5325 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种芯片测试电路、装置及系统。该芯片测试电路包括：高频信号测试模块，高频信号测试模块与芯片组成回路；第一低频信号测试模块、第二低频信号测试模块、第三低频信号测试模块和第四低频信号测试模块分别与芯片和低频信号测试器件电连接，第一低频信号测试模块、第二低频信号测试模块、第三低频信号测试模块和第四低频信号测试模块的电路结构相同，均包括电阻或者锥形电感。本发明实施例提供的技术方案，在同时传输高频测试信号和低频测试信号的基础上，提高了芯片测试电路可以传输的高频测试信号的频率。 |
