一种芯片测试用探针和芯片测试装置
基本信息
| 申请号 | CN202110231417.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113009196A | 公开（公告）日 | 2021-06-22 |
| 申请公布号 | CN113009196A | 申请公布日 | 2021-06-22 |
| 分类号 | G01R1/067;G01R31/28 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 顾培东;蒋卫兵 | 申请（专利权）人 | 上海捷策创电子科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京品源专利代理有限公司 | 代理人 | 胡彬 |
| 地址 | 201203 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区龙东大道3000号5号楼302室-5325 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及芯片测试技术领域，尤其涉及一种芯片测试用探针和芯片测试装置，芯片测试用探针包括探针保持体，设置在插座壳体中，于所述探针保持体的一端开设有安装孔；第一弹簧，所述第一弹簧穿设在所述安装孔中，所述第一弹簧的一端与所述安装孔的底面抵接；探针针头，一端穿设在所述安装孔中，且与所述第一弹簧的另一端抵接，所述探针针头的另一端相对所述插座壳体上的探针孔伸出，所述探针针头能够沿所述安装孔的轴向往复移动；第二弹簧，套设在所述探针保持体上，且一端能够与所述探针保持体抵接，另一端与所述插座壳体抵接。本发明够保证探针保持体与插座壳体稳定接触，从而满足测试要求。 |
