一种芯片测试装置
基本信息
| 申请号 | CN202010818568.X | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN111965524A | 公开（公告）日 | 2021-06-29 |
| 申请公布号 | CN111965524A | 申请公布日 | 2021-06-29 |
| 分类号 | G01R31/28 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 顾培东;张彤 | 申请（专利权）人 | 上海捷策创电子科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京品源专利代理有限公司 | 代理人 | 孟金喆 |
| 地址 | 201203 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区龙东大道3000号5号楼302室-5325 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明实施例公开了一种芯片测试装置，该芯片测试装置包括射频电路板，射频电路板表面设置有至少一条射频信号线和至少一个射频连接柱，射频连接柱与射频信号线一一对应且一体设置，射频连接柱与待测试芯片电连接；至少一个射频连接器，射频连接器与射频信号线一一对应且电连接，射频连接器与测试仪器电连接。本发明实施例提供的芯片测试装置能够使射频信号在传输过程中产生的损耗较少，从而提高了测试结果的准确性和可靠性。 |
