一种芯片测试装置
基本信息
| 申请号 | CN202021741054.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN212514903U | 公开（公告）日 | 2021-02-09 |
| 申请公布号 | CN212514903U | 申请公布日 | 2021-02-09 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 顾培东;张彤 | 申请（专利权）人 | 上海捷策创电子科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京品源专利代理有限公司 | 代理人 | 孟金喆 |
| 地址 | 201203上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区龙东大道3000号5号楼302室-5325 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型实施例公开了一种芯片测试装置，通过设置导框远离PCB板的表面包括凹陷结构，凹陷结构用于放置待测试芯片；凹陷结构的底面包括多个第一过孔，测试针头可拆卸地固定穿设在第一过孔中；使得在测试针头损坏或者需要采用不同类型的测试针头对待测芯片进行测试时，测试针头可以方便地从导框上拆卸下来，进而方便测试针头的更换。并且，多个测试针头中包括第一测试针头和第二测试针头，第一测试针头与PCB板上的第一射频信号线电连接，第二测试针头与PCB板上的第二射频信号线电连接，进而可以实现对待测芯片的性能测试。并且，本实用新型实施例提供的芯片测试装置，导框的结构简单，因此制作导框的难度较小。 |
