集成ESD保护的功率MOSFET或IGBT及制备方法

基本信息

申请号 CN201010502011.1 申请日 -
公开(公告)号 CN101982881A 公开(公告)日 2011-03-02
申请公布号 CN101982881A 申请公布日 2011-03-02
分类号 H01L27/02(2006.01)I;H01L29/861(2006.01)I;H01L29/06(2006.01)I;H01L21/77(2006.01)I 分类 基本电气元件;
发明人 钱梦亮;陈俊标;李泽宏 申请(专利权)人 无锡矽能微电子有限公司
代理机构 宜兴市天宇知识产权事务所 代理人 江苏东光微电子股份有限公司;江苏东晨电子科技有限公司;无锡矽能微电子有限公司
地址 214204 江苏省宜兴市新街百合工业园
法律状态 -

摘要

摘要 本发明是对集成ESD保护的功率MOSFET或IGBT改进,其特征是ESD保护单元的多晶二极管组中各P型区浓度与功率MOSFET或IGBT的P阱浓度相同,各N型区浓度与功率MOSFET或IGBT的N+源相同;多晶二极管组在栅极压焊区与元胞区间半环绕栅极压焊区设置,如果为栅插指结构,将半环绕的多晶二极管组中间由栅极插指结构隔开,形成不连通的左右L型,其中多晶二极管的各P型区和各N型区,分别由功率MOSFET或IGBT的P阱和N+源注入和扩散形成。所得ESD保护的功率MOSFET或IGBT,栅极与源极间漏电小,制备时栅、源极间击穿电压可调,ESD泄放能力高、可靠性好,制造简单。