一种CP测试探针最佳路径的算法
基本信息
| 申请号 | CN201811074043.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN109190748B | 公开（公告）日 | 2021-09-17 |
| 申请公布号 | CN109190748B | 申请公布日 | 2021-09-17 |
| 分类号 | G06N3/00;G06K9/62 | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 陈湘芳 | 申请（专利权）人 | 上海哥瑞利软件股份有限公司 |
| 代理机构 | 上海精晟知识产权代理有限公司 | 代理人 | 冯子玲 |
| 地址 | 200000 上海市闵行区园文路28号318室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种CP测试探针最佳路径的算法，包括：步骤一，根据晶圆的芯片状态图将需要测试的芯片用坐标表示；步骤二，用基于合并的层次聚类的改进算法对步骤一标识的芯片进行聚类；步骤三，聚类结束距离跟探针卡的探针分布(N*M)一致，步骤四，将每个类的左上角坐标作为本类的新坐标；步骤五，通过蚁群算法找到通过所有类的最短路径，此最短路径即为探针移动的最佳路径。本发明的CP测试探针最佳路径的算法，大大提高了路径设置的效率，有效减少人力成本和测试时间，提高产能。此算法结合多个动态参数，计算最优路径，有效减少探针卡的接触晶圆次数，从而提高测试效率，并尽可能地降低因为测试带给产品质量的影响。 |
