一种高效的晶圆连续失效芯片数量统计算法专利查询专利号|摘要-满商公司网

一种高效的晶圆连续失效芯片数量统计算法

基本信息

申请号	CN201811252916.0	申请日	-
公开（公告）号	CN109389598B	公开（公告）日	2021-09-17
申请公布号	CN109389598B	申请公布日	2021-09-17
分类号	G06T7/00（2017.01）I;G06T7/13（2017.01）I	分类	计算；推算；计数;
发明人	陈湘芳	申请（专利权）人	上海哥瑞利软件股份有限公司
代理机构	上海精晟知识产权代理有限公司	代理人	冯子玲
地址	200000上海市闵行区园文路28号318室
法律状态	-

摘要

本发明提供一种高效的晶圆连续失效芯片数量统计算法，包括：步骤一、初始化所有坐标，二、得到初始化为全0的矩阵A，三、测试完一个芯片后，将矩阵A对应位置设置成0或者1，1表示失效，如果是1则运算此芯片周围的8个芯片，四、情况一：8个芯片都不在连续失效芯片队列中，则此时连续失效芯片的数量为N+1，情况二：芯片中有M个在连续失效芯片队列Q1中，有N个在Q2中，则从Q1，Q2中各取出一个芯片记作Die1，Die2，则连续失效芯片的数量为V（Die1）+V（Die2）+1，情况三：M个孤立，N个在队列Q1中，此时连续失效芯片的数量为M+V（Die1）+1。本发明能有效提高监控和操作效率，提高监视的便利性。