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IC测试分类存储装置

基本信息

申请号 CN201310155996.9 申请日 -
公开（公告）号 CN103240229A 公开（公告）日 2013-08-14
申请公布号 CN103240229A 申请公布日 2013-08-14
分类号 B07C5/02(2006.01)I;B07C5/36(2006.01)I 分类 将固体从固体中分离；分选;
发明人 朱玉萍;岑刚;焦建华 申请（专利权）人 景焱（江苏）智能装备有限公司
代理机构 上海翼胜专利商标事务所（普通合伙） 代理人 嘉兴景焱智能装备技术有限公司
地址 314100 浙江省嘉兴市嘉善县大云镇嘉善大道2188号3号楼1D、1E室
法律状态 -

摘要

摘要 本发明涉及集成电路分装技术领域，公开了一种IC测试分类存储装置，包括IC检测单元、IC料盘单元、第一IC输送单元、转盘单元、旋转作业单元、第二IC输送单元，IC料盘单元包括待检料盘存放位、待放料盘存放位，转盘单元设置在待检料盘存放位的前端，第一IC输送单元位于转盘单元和待检料盘存放位之间，旋转作业单元位于转盘单元的一侧，旋转作业单元包括至少一个转臂，转臂循环能够转动定位至转盘单元上方、IC检测单元上方和第二输送单元上方，依次实现吸取IC、检测IC和暂存IC，第二IC输送单元将检测完成的IC根据其检测结果分别放置于不同的待放料盘上。本发明实现能IC的高速测试和高速分类。